12 marca 2018r. uczniowie kl. Ib pod opieką mgr Ewy Szromek wybrali się do Międzyuczelnianego Centrum Edukacji i Badań Interdyscyplinarnych w Chorzowie    na zajęcia odbywające się w ramach X Chorzowskiego Festiwalu Nauki.

Zajęcia miały na celu zaprezentowanie jednej z technik spektroskopowych – spektroskopii masowej jonów wtórnych (TOF-SIMS). W trakcie zajęć zapoznaliśmy się z zagadnieniami związanymi z praktycznymi aspektami pomiarów techniką TOF-SIMS zarówno w ujęciu podstaw fizycznych tego typu badań, budowy aparatury pomiarowej, jak i przykładów problemów naukowych jakie ta technika pozwala rozwiązać. W trakcie zajęć zaprezentowane zostały wyniki pomiarów materiałów biologicznych takich jak komórki (roślinne i zwierzęce) oraz tkanki (mózgi szczurów) oraz wyniki pomiarów różnego rodzaju materiałów funkcjonalnych (materiały biomedyczne, przemysłowe).

Dowiedzieliśmy się też ile to jest nano? Co to jest nanotechnologia i do czego może służyć? Czy można zobaczyć (lub dotknąć) jednego atomu? Odpowiedzi na te pytania próbowaliśmy znaleźć odwiedzając laboratorium mikroskopii ze skanującą sondą  w prezentacji “Jak zobaczyć atomy?”

Być może okaże się, że Ci, którzy dziś byli tylko obserwatorami „połkną bakcyla” i po zdaniu matury będą kontynuować te badania jako studenci.

mgr Ewa Szromek

 

ZOSTAW ODPOWIEDŹ

Please enter your comment!
Please enter your name here